Nghiên cứu ô nhiễm các kim loại nặng trong bụi khí ở hà nội bằng phương pháp phân tích pixe trên máy gia tốc pelletron 5SDH 2

63 649 1
Nghiên cứu ô nhiễm các kim loại nặng trong bụi khí ở hà nội bằng phương pháp phân tích pixe trên máy gia tốc pelletron 5SDH 2

Đang tải... (xem toàn văn)

Tài liệu hạn chế xem trước, để xem đầy đủ mời bạn chọn Tải xuống

Thông tin tài liệu

MỤC LỤC MỞ ĐẦU Chương – TỔNG QUAN 1.1 Định nghĩa 1.2 Các dịch chuyển tia X 1.3 Cơng thức tính suất lượng tia X mẫu mỏng 1.4 Tốc độ phát tia X cường độ vạch phổ tia X 1.5 Hiệu suất huỳnh quang dịch chuyển Coster-Kronig 1.6 Hàm khớp đa thức liệu tiết diện ion hóa 12 1.7 Hiệu ứng thứ cấp 14 1.8 Phổ PIXE 15 1.9 Giới hạn phát 17 Chương – THIẾT BỊ VÀ PHƯƠNG PHÁP THỰC NGHIỆM 19 2.1 Phương pháp thu ghóp mẫu bụi khí 19 2.1.1 Thiết bị thu ghóp mẫu 19 2.1.2 Phin lọc 21 2.2 Chọn vị trí thu góp mẫu 22 2.3 Thiết bị quy trình phân tích mẫu bụi khí kỹ thuật PIXE 24 2.3.1 Máy gia tốc 24 2.3.1.1 Nguồn ion 25 2.3.1.2 Buồng gia tốc 26 2.3.1.3 Các hệ thống phụ trợ 26 2.3.2 Bố trí thí nghiệm buồng phân tích 26 2.3.3 Giá để mẫu 27 2.3.4 Detector 29 2.3.5 Tấm lọc 30 2.4 Phần mềm ghi nhận xử lý số liệu 32 2.4.1 Phần mềm ghi nhận phổ RC43 32 2.4.2 Phần mềm phân tích phổ PIXE – GUPIX 33 2.5 Tiến hành phép đo xử lý số liệu 37 2.5.1 Các phương pháp đo mẫu mỏng 37 2.5.2 Tiến hành phép đo 38 2.5.3 Xử lý số liệu 39 Chương – KẾT QUẢ VÀ THẢO LUẬN 42 3.1 Các kết phép đo đối chứng với giá trị chuẩn mẫu V83 42 3.2 Các kết phép đo mẫu bụi khí phin lọc 43 3.3 Một số khuyến nghị 45 KẾT LUẬN 47 TÀI LIỆU THAM KHẢO 48 PHỤ LỤC 50 DANH MỤC ĐỒ THỊ, HÌNH VẼ Hình 0.1 Một số hình ảnh nhiễm bụi khí Hà Nội Hình1.1 Sơ đồ mức lượng nguyên tử, bên trái hệ thống ký hiệu Siegahn (cũ) bên phải ký hiệu phổ (lượng tử) Các dịch chuyển tương ứng biểu diễn Hình 1.2 Hiệu suất huỳnh quang L1 phân lớp L1 hàm phụ thuộc số hiệu nguyên tử bia Z2 12 Hình 1.3 Các tiết diện ion hóa vạch K, L (ECPSSR) M(CPWBA) hàm lượng ion tới (E/U) hạt tới proton U (keV) lượng biên hấp thụ nguyên tử bia, Đường đậm đường khớp điểm thực nghiệm dấu * 13 Hình 1.4 Phổ PIXE mẫu địa chất 15 Hình 2.1 Sơ đồ nguyên tắc thiết bị thu ghóp mẫu GENT-SFU [1] 20 Hình 2.2 Sơ đồ nguyên tắc thiết bị thu ghóp mẫu ASP [1] 21 Hình 2.3 Hình ảnh phin lọc Nuclepore sử dụng cho máy GENT trước (trái) sau thu ghóp phân tích kỹ thuật PIXE (phải) 22 Hình 2.4 Vị trí đặt thiết bị thu góp mẫu thích hợp [1] 23 Hình 2.5 Các thiết bị thu góp bụi khí trạm khí tượng Láng, Hà Nội (hình trên) thiết bị tương tự đặt ANSTO (Úc), từ trái qua phải thiết bị cyclone PM2.5, PM10 sử dụng phin lọc Teflon thiết bị thu góp nhiều tầng GENT PM10/PM2.5 sử dụng phin lọc Nuclepore 24 Hình 2.6 Bố trí thí nghiệm: Hệ máy gia tốc (hình trên) buồng phân tích PIXE (hình dưới) 27 Hình 2.7 Các thiết kế đề xuất với giá để mẫu buồng chiếu cho phân tích PIXE mẫu mỏng [13] 29 Hình 2.8 Hiệu suất ghi nội detector Sirius SDD dùng thí nghiệm tính tốn phần mềm GUPIX dựa tham số đầu vào nhà sản xuất.30 Hình 2.9 Sự thay đổi hiệu suất ghi tuyệt đối detector Sirius SDD lọc khác đặt buồng chiếu 31 Hình 2.10 Cửa sổ ghi nhận số liệu phần mềm RC43 33 Hình 2.11 Giao diện chương trình GUPIX 34 Hình 3.1 Tương quan giá trị chuẩn giá trị đo mẫu đối chứng V83 IAEA 43 Hình 3.2 Phổ PIXE mẫu bụi khí phin lọc ký hiệu Fi25 sau làm khớp 44 Hình 3.3 Biểu đồ hộp biểu diễn phân bố mặt thống kê tập hợp giá trị tỉ lệ hàm lượng đo hệ máy gia tốc HUS hàm lượng đo ANSTO mẫu đo từ Fi-21 đến Fi40, với nguyên tố khác 45 DANH MỤC BẢNG BIỂU Bảng 1.1 Các hệ số từ phép khớp bình phương tối thiểu liệu [8] (gõ lại bảng chỉnh sửa pain) 11 Bảng 1.2 Các hệ số công thức 13 14 Bảng 2.1 Điều kiện thí nghiệm phép đo 39 Bảng 3.1 Kết phân tích mẫu đối chứng V83 42 DANH MỤC CÁC TỪ VIẾT TẮT TT Từ viết Giải thích tiếng Anh Giải thích tiếng Việt tắt PIXE Partical Induced X-ray Phương pháp huỳnh quang tia Emission IAEA X International Atomic Energy Cơ quan Năng lượng Nguyên Agency ANSTO tử Quốc tế Australian Nuclear science & Tổ chức Khoa học Công Technology organisation nghệ Hạt nhân Úc IOP Institute of Physics Viện Vật lý LOD Limit of detection Giới hạn phát PWBA Plane wave Born Lý thuyết gần approximation FWHM Full width at hafl maximun Độ phân giải lượng RF Radio frequency Nguồn tạo ion từ dao động cao tần SNICS Source of Negative Ions by Nguồn tạo ion âm phún xạ Cecium Sputtering 10 MCA Cecium Multi Channel Analyzer Máy phân tích đa kênh Luận văn Thạc sỹ Nguyễn Văn Hiệu MỞ ĐẦU Hiện nay, việc ứng dụng phương pháp phân tích hạt nhân nghiên cứu môi trường quan tâm đặc biệt Trong nhiều phương pháp sử dụng rộng rãi đo phân rã beta, alpha, gamma, phương pháp huỳnh quang tia X….Với phát triển nhanh chóng khoa học cơng nghệ việc sử dụng máy gia tốc loại nhỏ ứng dụng phân tích mẫu mơi trường sử dụng phương pháp PIXE xem có nhiểu ưu điểm so với phương pháp khác Trong năm gần vấn đề ô nhiễm môi trường tình trạng báo động, ảnh hưởng nghiêm trọng tới điều kiện sống sức khỏe người Có nhiều loại nhiễm mơi trường ô nhiễm nguồn nước, ô nhiễm thực phẩm nhiễm khơng khí Trong nhiễm khơng khí vấn để cấp thiết nước phát triển phát triển bụi khói cơng nghiệp, nơng nghiệp sinh hoạt hàng ngày người tạo làm cho bầu không khí bị nhiễm trầm trọng… Điển thành phố Bắc Kinh Trung Quốc nước phát triển giới, năm 2013 quyền Bắc Kinh phải đưa bốn mức báo động với ô nhiễm môi trường, Báo cáo Blue paper for World Cities năm 2012 nêu rõ thủ đô Bắc Kinh Trung Quốc tuần lần đến mức ô nhiễm trầm trọng Trong năm có 365 ngày có đến 190 ngày thủ vượt ngưỡng cho phép nhiễm khơng khí Hà Nội thành phố ô nhiễm khu vực châu Á, hàm lượng bụi cao gấp nhiều lần mức cho phép, chuyên gia nước khẳng định “Tại đô thị lớn Việt Nam, ô nhiễm không khí ảnh hưởng tới hoạt động người dân lúc, nơi, thủ đô Hà Nội Đây thành phố ô nhiễm châu Á, thành phố ô nhiễm khu vực Đông Nam Á”, ông Jacques Mxoussafir, công ty ARIA Technologies nước Pháp cảnh báo Luận văn Thạc sỹ Nguyễn Văn Hiệu Hình 0.1 Một số hình ảnh nhiễm bụi khí Hà Nội Theo Tổ chức Y tế Thế giới, nhiễm khơng khí thị làm khoảng 800.000 người chết 4,6 triệu người giảm tuổi thọ giới năm 2/3 số người chết giảm tuổi thọ ô nhiễm không khí thuộc nước phát triển châu Á Theo nghiên cứu cơng bố ngày 12/7 tạp chí Environmental Research Letters Viện Vật lý (IOP)- Việt Nam, ước tính ước tính khoảng 2,1 triệu ca tử vong năm người làm gia tăng nồng độ bụi có kích cỡ nhỏ khơng khí (PM2.5) Những hạt bụi nhỏ liti lơ lửng khơng khí xâm nhập sâu vào phổi, gây ung thư nhiều bệnh đường hô hấp( ScienceDaily đưa tin) Hằng năm có khoảng 20 tỉ CO2 + 1,53 triệu SiO2 + Hơn triệu Niken + 700 triệu bụi + 1,5 triệu Asen + 900 coban + 600.000 Kẽm (Zn), Thuỷ ngân (Hg), Chì (Pb) chất độc hại khác Làm tăng đột biến chất CO2, NOX, SO3 … Các chất ô nhiễm xuất phát từ nhiều nguồn khác nhau, nhiễm khơng khí khó phân tích chất nhiễm thay đổi nhiều điều kiện thời tiết địa hình, nhiều chất cịn phản ứng với tạo chất độc Do tính đa dạng phức tạp yếu tố nhiễm mơi trường khơng khí tác động qua lại hệ sinh thái môi trường, nên giải Luận văn Thạc sỹ Nguyễn Văn Hiệu tốn nhiễm bụi khí địi hỏi phải có tham gia nhiều ngành khoa học, sử dụng nhiều kỹ thuật phân tích khác nhằm thu thập đầy đủ thơng tin mẫu phân tích lấy từ địa điểm mang tính chất đại diện cần quan tâm Trong số kỹ thuật phân tích áp dụng để nghiên cứu nhiễm bụi khí kỹ thuật PIXE thể nhiều ưu điểm vượt trội khả phân tích đồng thời nhiều nguyên tố với độ nhạy, độ xác cao khơng phá hủy mẫu Vì lý trên, tác giả lựa chọn đề tài: “Nghiên cứu ô nhiễm kim loại nặng bụi khí Hà Nội phương pháp phân tích PIXE máy gia tốc Pelletron 5SDH-2” Mục đích đề tài luận văn bước đầu nghiên cứu quy trình phân tích mẫu bụi khí phin lọc kỹ thuật PIXE phịng thí nghiệm máy gia tốc Tandem Pelletron 5SDH-2 đặt Trường Đại học Khoa học tự nhiên (HUS), đồng thời tiến hành phân tích số mẫu bụi khí phin lọc, so sánh kết phân tích với kết phân tích Viện Khoa học kỹ thuật Hạt nhân Úc Từ tác giả đề số khuyến nghị để bước hồn thiện quy trình phân tích mẫu dạng phịng thí nghiệm Bố cục luận văn gồm có phần chính: - Tổng quan: Trình bày sở lý thuyết kỹ thuật PIXE bắt đầu công thức lý thuyết xác định suất lượng tia X, từ trình bày đại lượng vật lý liên quan tiến diện ion hóa, hiệu suất huỳnh quang Một số nội dung quan trọng phông, phổ PIXE hay giới hạn phát đề cập - Thiết bị phương pháp thực nghiệm: Trình bày hệ máy gia tốc 5SDH-2 hệ phân tích PIXE sử dụng thí nghiệm khn khổ luận văn Đồng thời trình bày phương pháp đo xử lý số liệu - Kết thảo luận: Trình bày kết ý, cụ thể kết phân tích mẫu đối chứng V83 (IAEA) phục vụ đảm bảo chất lượng 20 mẫu bụi khí PM2.5-10 phin lọc, so sánh với kết phân tích Tổ chức Khoa học Công nghệ Hạt nhân Úc (ANSTO) Luận văn Thạc sỹ Nguyễn Văn Hiệu Chương – TỔNG QUAN Kỹ thuật phân tích tia X gây chùm hạt (Particle Induced X-ray Emission – PIXE) có lịch sử hình thành từ năm 1976 từ báo tổng quan Johansson [2] Khoảng thời gian có nhiều công bố khoa học phương pháp ứng dụng liên quan đến kỹ thuật này, cụ thể tuyển tập hội nghị quốc tế PIXE tổ chức năm 1977, 1981 1984 Kỹ thuật PIXE công cụ mạnh tiên tiến cho phân tích khơng phá hủy thành phần vi lượng nguyên tố mẫu với thời gian đo mẫu điển hình khoảng vài phút Kỹ thuật sử dụng chùm Ion có lượng vào khoảng từ 0.5 đến 10 MeV/amu sử dụng detector bán dẫn Si để ghi nhận tia X sinh Hầu hết nguyên tố từ Na trở phân tích dải lượng tia X từ đến 100 keV Năng lượng tia X phát đặc trưng cho nguyên tố bị bắn phá chùm ion số lượng tia X đặc trưng tỉ lệ với hàm lượng nguyên tố Khoảng từ 25 đến 30 ngun tố phân tích đồng thời với ngưỡng phát (LOD) µg/g số trường hợp 1.1 Định nghĩa Sự phát tia X (đặc trưng) gây chùm hạt (PIXE) trình gồm nhiều giai đoạn, chùm ion tới tương tác với nguyên tử bia, tạo lỗ trống lớp electron bên trong, sau electron lớp ngồi nhảy vào lấp lỗ trống lượng sinh trình chuyển mức lượng truyền cho photon phát (tia X) hay electron Auger Hình 1.1 biểu diễn số dịch chuyển xảy lỗ trống phân lớp thuộc lớp K L kèm theo ký hiệu tương ứng dịch chuyển đó, đặt tên dựa khác mức lượng electron nhảy vào chiếm chỗ Các vạch phổ tia X tương ứng phân thành phân nhóm α, β, γ dựa vào lượng chúng Các vạch phổ loại α có lượng lớn vạch phổ loại β vạch phổ loại lại có lượng cao vạch phổ loại γ Có khoảng 13 vạch nhóm K, 37 vạch nhóm L Luận văn Thạc sỹ Nguyễn Văn Hiệu 3500 y=1.19216x; R =0.99926 3000 Giá trị đo (ng/cm ) 2500 2000 1500 1000 500 0 500 1000 1500 2000 2500 3000 Giá trị chuẩn (ng/cm ) Hỡnh 3.1 Tương quan giá trị chuẩn giá trị đo mẫu đối chứng V83 IAEA Giá trị đo giá trị chuẩn có tương quan tốt với Sai khác kết đo kết chuẩn phân bố đồng quanh giá trị 1.19216 lần Từ tác giả nhận định tồn nguồn sai số hệ thống đóng ghóp vào kết đo Việc đánh giá nguồn sai số hệ thống khắc phục khâu quan trọng quy trình QA&QC sau phòng máy gia tốc xét kỹ nghiên cứu 3.2 Các kết phép đo mẫu bụi khí phin lọc Luận văn tiến hành phân tích 20 mẫu bụi khí PM2.5-10 phin lọc polycarbonate, đánh số từ Fi-21 đến Fi-40 với nguyên tố quan tâm là: S, K, Ca, Mn, Zn Pb Phổ PIXE mẫu bụi khí Fi-25 sau làm khớp biểu diễn Hình 3.2 43 Luận văn Thạc sỹ Nguyễn Văn Hiệu Hình 3.2 Phổ PIXE mẫu bụi khí phin lọc ký hiệu Fi25 sau làm khớp Kết phân tích hàm lượng nguyên tố mẫu bụi khí phin lọc thực hệ phân tích PIXE Trường Đại học Khoa học tự nhiên (HUS) so sánh với kết phân tích tiến hành hệ phân tích PIXE Viện khoa học cơng nghệ Hạt nhân Úc (ANSTO) Tỉ số giá trị đo hai hệ phân tích nguyên tố khác biểu diễn Hình 3.3 Bảng kết phân tích mẫu kèm theo so sánh với kết đo ANSTO cho phần Phụ lục luận văn 44 Luận văn Thạc sỹ Nguyễn Văn Hiệu S K Ca Mn Fe Zn Pb Hàm lượng (HUS)/Hàm lượng(ANSTO) S K Ca Mn Fe Zn Pb Nguyªn tè Hình 3.3 Biểu đồ hộp biểu diễn phân bố mặt thống kê tập hợp giá trị tỉ lệ hàm lượng đo hệ máy gia tốc HUS hàm lượng đo ANSTO mẫu đo từ Fi-21 đến Fi40, với nguyên tố khác Dựa vào Hình 3.3, ta thấy giá trị trung vị độ sai khác hai giá trị đo nguyên tố quan tâm nằm xung quanh giá trị Từ ta thấy phù hợp hai kết đo mẫu khác Sự sai khác hai kết phân tích phân tán mạnh ngun tố Ca, giải thích hàm lượng Ca đến Graphit lớn không đồng nên lần chiếu mẫu đế khác dẫn đến sai khác 3.3 Một số khuyến nghị Từ kết phân tích mẫu, bước đầu cho thầy phù hợp giá trị đo hệ phân tích giá trị chuẩn giá trị đo phòng thí nghiệm nước ngồi Tuy nhiên, cịn có sai khác lớn giá trị đo giá trị chuẩn số nguyên tố, sai khác có phân bố hai phía, phần lớn đóng ghóp nhiều nguồn sai số cấu hình thí nghiệm chưa tối ưu gây nên như: nguyên tố lẫn phông đế Graphit, thăng giáng đếm dòng gây nên trình phát electron thứ cấp, tia X hạt tán xạ ngược 45 Luận văn Thạc sỹ Nguyễn Văn Hiệu phát đế graphit lại kích thích nguyên tố mẫu Tất nguồn gây sai số loại bỏ thiết kế thí nghiệm tối ưu tác giả đề xuất Chương 46 Luận văn Thạc sỹ Nguyễn Văn Hiệu KẾT LUẬN - Đã tìm hiểu nắm chế phát tia X kích thích Proton, sở để xây dựng phương pháp phân tích PIXE, tìm hiểu tất vấn để liên quan, hiệu ứng, phổ PIXE giới hạn phát - Đã tìm hiểu nắm rõ máy gia tốc pelletron, cơng cụ để thực phần thực nghiệm luận văn - Đã tìm hiểu bụi khí, ảnh hưởng bụi khí với sức khỏe người, cách thức thu gom bụi khí mẫu phin lọc với lỗ lọc khác để mẫu phân tích có kích thước khác - Đã tìm hiểu nắm qui trình phân tích PIXE mẫu mỏng phần mềm phân tích GUPIX để phân tích - Tham gia tiến hành phân tích 20 mẫu bụi khí Hà Nội, thu thiết bị lấy mẫu bụi khí đặt Viện Khoa học Kỹ thuật Hạt nhân Đây thiết bị ANSTO tài trợ cho Viện Kết phân tích trùng lắp tốt với kết mà ANSTO phân tích Các liệu phân tích khn khổ luận văn đóng ghóp vào q trình bước xây dựng quy trình phân tích mẫu dạng mỏng nói chung mẫu bụi khí phin lọc nói riêng, phục vụ cho đề tài có ý nghĩa mơi trường, sinh học, hóa học … sau hệ máy gia tốc 47 Luận văn Thạc sỹ Nguyễn Văn Hiệu TÀI LIỆU THAM KHẢO Tiếng Việt Vương Thu Bắc (2013), Nghiên cứu ứng dụng kỹ thuật phân tích hạt nhân phối hợp với số kỹ thuật phân tích hỗ trợ góp phần giải tốn nhiễm bụi khí PM-10, Luận án tiến sĩ Vật lý, Viện Năng lượng nguyên tử Việt Nam, Hà Nội Tiếng Anh D.D Cohen, E Clayton (1989), Ion Beams for Materials Analysis, Chapter 5, Academic Press, New York D.D Cohen (1984), “Comments on several analytical techniques for Lsubshell ionisation calculations”, J Phys B: At Mol Phys.,17, pp 39133921 D.D Cohen, M Harrigan (1986), Calculated L-shell X-ray line intensities for proton and helium ion impact, Atomic Data and Nuclear Data Tables, 34, pp 393–414 D.D Cohen, M Harrigan (1985), “K- and L-shell ionization cross sections for protons and helium ions calculated in the ecpssr theory”, Atomic Data and Nuclear Data Tables, 33, pp 255-343 Hasnat Kabir (2007), Particle Induced X-ray Emission (PIXE) Setup and Quantitative Elemental Analysis, PhD Thesis, Kochi University of Technology, Japan IAEA (2000), Instrumentation for PIXE and RBS, IAEA-TECDOC-1190, Viennam James H Scofield (1974), “Experimental K and L relative x-ray emission ratess”, Atomic Data and Nuclear Data Tables, 14, pp 121-137 J.A Maxwell, W.J Teesdale, J.L Campbell (1995), “The Guelph PIXE software package II”, Nucl Instrum Methods B, 95, pp 407-421 48 Luận văn Thạc sỹ Nguyễn Văn Hiệu Krause, M.O (1979), ”Atomic radiative and radiationless yield for K and L shells”, Journal of Physical and Chemical Reference Data , 8, p 307 10 T Calligaro, J.D MacArthur, J Salomon (1996), “An improved experimental setup for the simultaneous PIXE analysis of heavy and light elements with a MeV proton external beam”, Nucl Instrum Methods B, 109–110, pp 125-128 11 S.I Salem, S.L Panossian, R.A Krause (1974), “Relativistic hartree-slater values for K and L X-ray emission rates”, Atomic Data and Nuclear Data Tables, 14, pp 91-109 12 Sven A.E Johansson, Thomas B Johansson (1976), “Analytical application of particle induced X-ray emission”, Nucl Instrum Methods, 137, pp 473– 516 13 Werner Brandt, Grzegorz Lapicki (1979), “L-shell Coulomb ionization by heavy charged particles”, Phys Rev A, 20, p 465 14 Werner Brandt, Grzegorz Lapicki (1981), “Energy-loss effect in inner-shell Coulomb ionization by heavy charged particles”, Phys Rev A, 23, p 1717 15 W Reuter et.al (1975), “Quantitative analysis of complex targets by proton‐induced X rays”, J Appl Phys 46, p 3194 49 Luận văn Thạc sỹ Nguyễn Văn Hiệu PHỤ LỤC Mẫu Fi-21 Nguyên tố S K Ca Mn Fe Zn Pb Giá trị đo HUS (ng/cm2) 1552 ± 146 343 ± 35 420 ± 43 20 ± 190 ± 16 88 ± 10 28 ± 14 Ngưỡng phát (ng/cm2) 58.1 16.5 13.2 3.18 3.62 5.89 19.3 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 1511 ± 279 ± 205 ± 26 ± 152 ± 94 ± 23 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 2 Giá trị đo HUS (ng/cm2) 1383 ± 137 443 ± 40 391 ± 42 17 ± 135 ± 13 87 ± 10 24 ± 13 Ngưỡng phát (ng/cm2) 57.8 16.4 13.5 3.24 2.82 4.52 21 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 1576 ± 214 ± 263 ± 21 ± 135 ± 103 ± 24 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 2 Giá trị đo HUS (ng/cm2) 1045 ± 112 993 ± 61 1247 ± 77 15 ± 340 ± 21 172 ± 13 Ngưỡng phát (ng/cm2) 60.4 16.3 14.7 1.06 2.78 5.64 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 1012 ± 686 ± 1051 ± 15 ± 410 ± 170 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 6 2 Mẫu Fi-22 Nguyên tố S K Ca Mn Fe Zn Pb Mẫu Fi-23 Nguyên tố S K Ca Mn Fe Zn 50 Luận văn Thạc sỹ Pb Nguyễn Văn Hiệu 63 ± 16 23.2 52 ± Giá trị đo HUS (ng/cm2) 2678 ± 198 430 ± 37 469 ± 43 12 ± 244 ± 18 400 ± 26 53 ± 15 Ngưỡng phát (ng/cm2) 55.1 16.3 13.6 3.38 2.11 8.18 22.9 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 2507 ± 400 ± 429 ± 20 ± 288 ± 440 ± 64 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 5 2 Giá trị đo HUS (ng/cm2) 1549 ± 142 303 ± 27 443 ± 38 45 ± 273 ± 18 540 ± 33 91 ± 18 Ngưỡng phát (ng/cm2) 56.2 16.3 12.7 2.04 3.19 5.44 15 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 1583 ± 283 ± 399 ± 56 ± 305 ± 595 ± 78 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 5 2 Giá trị đo HUS (ng/cm2) 720 ± 98 199 ± 22 555 ± 41 10 ± 234 ± 15 63 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 55.2 16 12.7 2.57 4.17 4.71 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 874 ± 187 ± 385 ± 9±1 183 ± 71 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 5 1 Mẫu Fi-24 Nguyên tố S K Ca Mn Fe Zn Pb Mẫu Fi-25 Nguyên tố S K Ca Mn Fe Zn Pb Mẫu Fi-26 Nguyên tố S K Ca Mn Fe Zn 51 Luận văn Thạc sỹ Pb Nguyễn Văn Hiệu 13 ± 12 23 19 ± Giá trị đo HUS (ng/cm2) 999 ± 115 327 ± 29 337 ± 34 23 ± 199 ± 14 536 ± 34 68 ± 15 Ngưỡng phát (ng/cm2) 55 16.4 12.8 3.33 3.29 5.03 23.2 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 1134 ± 326 ± 289 ± 28 ± 199 ± 623 ± 73 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 5 2 Giá trị đo HUS (ng/cm2) 1983 ± 162 604 ± 40 460 ± 37 40 ± 249 ± 16 1059 ± 58 109 ± 20 Ngưỡng phát (ng/cm2) 58.3 16.3 13.3 2.81 3.01 7.14 18 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 2369 ± 536 ± 502 ± 49 ± 295 ± 1173 ± 96 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 6 2 10 Giá trị đo HUS (ng/cm2) 1366 ± 127 447 ± 32 577 ± 42 9±3 156 ± 11 141 ± 11 Ngưỡng phát (ng/cm2) 55.9 16.1 13.1 2.85 2.87 4.61 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 1348 ± 406 ± 491 ± 9±1 174 ± 146 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 5 2 Mẫu Fi-27 Nguyên tố S K Ca Mn Fe Zn Pb Mẫu Fi-28 Nguyên tố S K Ca Mn Fe Zn Pb Mẫu Fi-29 Nguyên tố S K Ca Mn Fe Zn 52 Luận văn Thạc sỹ Pb Nguyễn Văn Hiệu 34 ± 13 21.1 29 ± Giá trị đo HUS (ng/cm2) 2106 ± 173 292 ± 26 523 ± 42 14 ± 214 ± 15 497 ± 31 73 ± 16 Ngưỡng phát (ng/cm2) 55.8 15.7 12.5 2.44 2.78 4.62 21.3 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 2540 ± 285 ± 292 ± 17 ± 238 ± 592 ± 62 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 5 2 Giá trị đo HUS (ng/cm2) 687 ± 99 293 ± 26 592 ± 45 3±3 128 ± 10 102 ± 10 22 ± 12 Ngưỡng phát (ng/cm2) 57.5 16.1 12.8 3.51 2.71 5.39 20 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 741 ± 239 ± 243 ± 6±1 108 ± 55 ± 15 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 5 1 Giá trị đo HUS (ng/cm2) 2140 ± 169 483 ± 34 850 ± 57 49 ± 225 ± 15 Ngưỡng phát (ng/cm2) 58.3 15.9 12.9 2.41 3.27 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 2412 ± 435 ± 225 ± 53 ± 141 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 5 2 Mẫu Fi-30 Nguyên tố S K Ca Mn Fe Zn Pb Mẫu Fi-31 Nguyên tố S K Ca Mn Fe Zn Pb Mẫu Fi-32 Nguyên tố S K Ca Mn Fe 53 Luận văn Thạc sỹ Zn Pb Nguyễn Văn Hiệu 73 ± 40 ± 14 1.36 19.5 53 ± 26 ± Giá trị đo HUS (ng/cm2) 3803 ± 250 747 ± 46 199 ± 26 39 ± 187 ± 13 120 ± 10 71 ± 17 Ngưỡng phát (ng/cm2) 54.8 16.2 13.3 3.79 2.56 2.01 22.8 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 3788 ± 747 ± 131 ± 49 ± 212 ± 129 ± 76 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 6 2 Giá trị đo HUS (ng/cm2) 4202 ± 285 658 ± 43 447 ± 37 42 ± 239 ± 16 633 ± 37 94 ± 19 Ngưỡng phát (ng/cm2) 57.9 16.2 13.5 2.65 3.29 9.4 26.6 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 4802 ± 641 ± 430 ± 45 ± 271 ± 725 ± 114 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 2 11 Giá trị đo HUS (ng/cm2) 2958 ± 206 531 ± 36 400 ± 34 19 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 53.8 16.1 13.2 2.81 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 2859 ± 485 ± 303 ± 21 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 5 Mẫu Fi-33 Nguyên tố S K Ca Mn Fe Zn Pb Mẫu Fi-34 Nguyên tố S K Ca Mn Fe Zn Pb Mẫu Fi-35 Nguyên tố S K Ca Mn 54 Luận văn Thạc sỹ Fe Zn Pb Nguyễn Văn Hiệu 157 ± 11 146 ± 11 55 ± 15 3.56 4.91 20.8 192 ± 159 ± 57 ± 2 Giá trị đo HUS (ng/cm2) 2436 ± 177 750 ± 46 537 ± 40 69 ± 344 ± 20 256 ± 17 69 ± 17 Ngưỡng phát (ng/cm2) 56.7 16.3 13.5 3.18 4.21 6.65 26 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 2448 ± 679 ± 454 ± 81 ± 381 ± 269 ± 69 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 6 Giá trị đo HUS (ng/cm2) 719 ± 98 356 ± 28 444 ± 36 10 ± 113 ± 34 ± 15 ± 13 Ngưỡng phát (ng/cm2) 57.6 16.1 12.6 2.19 3.87 3.71 20.3 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 888 ± 329 ± 378 ± 6±1 145 ± 40 ± 12 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 5 2 Giá trị đo HUS (ng/cm2) 1253 ± 126 290 ± 26 490 ± 41 Ngưỡng phát (ng/cm2) 57.9 16.1 12.6 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 1331 ± 253 ± 211 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 5 Mẫu Fi-36 Nguyên tố S K Ca Mn Fe Zn Pb Mẫu Fi-37 Nguyên tố S K Ca Mn Fe Zn Pb Mẫu Fi-38 Nguyên tố S K Ca 55 Luận văn Thạc sỹ Mn Fe Zn Pb Nguyễn Văn Hiệu 26 ± 167 ± 12 607 ± 37 73 ± 16 2.51 2.91 7.19 21.8 31 ± 156 ± 659 ± 59 ± 2 Giá trị đo HUS (ng/cm2) 871 ± 103 152 ± 20 N/A 9±3 89 ± 81 ± 25 ± 12 Ngưỡng phát (ng/cm2) 56.1 15.9 N/A 3.57 2.27 3.37 17.5 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 749 ± 95 ± 67 ± 14 ± 69 ± 57 ± 19 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 4 1 Giá trị đo HUS (ng/cm2) 295 ± 88 57 ± 19 N/A 3±3 110 ± 11 65 ± 17 ± 12 Ngưỡng phát (ng/cm2) 58.2 16.3 N/A 3.68 2.17 4.74 17.8 Giá trị đo ANSTO (ng/cm2) 373 ± 46 ± 28 ± 6±1 32 ± 65 ± 11 ± Ngưỡng phát (ng/cm2) 4 1 Mẫu Fi-39 Nguyên tố S K Ca Mn Fe Zn Pb Mẫu Fi-40 Nguyên tố S K Ca Mn Fe Zn Pb 56 Luận văn Thạc sỹ Nguyễn Văn Hiệu 57 ... Vì lý trên, tác giả lựa chọn đề tài: ? ?Nghiên cứu ô nhiễm kim loại nặng bụi khí Hà Nội phương pháp phân tích PIXE máy gia tốc Pelletron 5SDH- 2? ?? Mục đích đề tài luận văn bước đầu nghiên cứu quy... QA&QC sau phịng máy gia tốc xét kỹ nghiên cứu 3 .2 Các kết phép đo mẫu bụi khí phin lọc Luận văn tiến hành phân tích 20 mẫu bụi khí PM2.5-10 phin lọc polycarbonate, đánh số từ Fi -21 đến Fi-40 với... bị gia tốc chùm proton sử dụng khuôn khổ luận văn máy gia tốc Pelletron 5SDH2 Đây loại máy gia tốc tính điện kép (Tandem), sản xuất hãng National Electrostatics Corporation-USA Đây máy gia tốc

Ngày đăng: 10/07/2015, 21:18

Từ khóa liên quan

Tài liệu cùng người dùng

  • Đang cập nhật ...

Tài liệu liên quan