0
  1. Trang chủ >
  2. Kỹ Thuật - Công Nghệ >
  3. Kĩ thuật Viễn thông >

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 2 pot

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 2 pot

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 2 pot

... composite materials. Profilometry of softer materials, such as polymers, is also possible with SFM, and with STM if the sample is conducting. Low forces on the SFM tip allow imaging of materials ... prescribed degree. This large depth of focus contributes to the ease of observation of topographical 2. 2 SEM 77 Incident Electron Beam Pre-Field of the Ojbective Lens Selected- Area ... TECHNIQUES Chapter 2 IMAGING TECHNIQUES (MICROSCOPY) 2. 1 Light Microscopy 60 2. 2 Scanning Electron Microscopy, SEM 70 2. 3 Scanning Tunneling/Scanning Force Microscopy, 2. 4 Transmission...
  • 79
  • 263
  • 0
ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 3 potx

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 3 potx

... distribution of generation of Cu KOr X rays for an incident beam energy of 20 keV, and the effect of absorption. tion volume of a beam incident perpendicularly on a flat specimen of copper, ... of Cu produces a weak peak at about 1 .27 eV, in addition to the CdS band-edge emission at 2. 42 eV. Pulsed laser annealing with an energy density of 0.1 J/cm2 increases the intensity of ... form of a cone as shown in Figure l), the electron diffraction pattern becomes an array of disks rather than an array of sharp spots as in TEM. The vari- ous manifestations of this type of...
  • 79
  • 223
  • 0
ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 6 potx

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 6 potx

... 415 Many materials have been studied; examples include: Dielectrics and optical coatings: Si3N4, Si 02, SiOJV,,, Al2O3, a-C:H, ZnO, Ti 02, ZnO/Ag/ZnOY TiOz/Ag/TiO2, Ago, In(Sn )20 3, and organic ... surface region of thickness t4). One of the films tl or t3 may consist of microscopic (less than 100 nm size) mixtures of two materials, such as SiO, and Si3N4. The volume ratios of these ... 2 D. E. Aspnes. In: Handbook of Optical Constana of Solid. (E. Palik, ed.) Academic Press, Orlando, 1985. Description of use of ellipsometry to determine optical constants of...
  • 79
  • 197
  • 0
ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 1 pdf

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 1 pdf

... ll.' ;E20ll 5 11 .2 ;l;g;v 11.3 NAA 11.4 NRA 2 0 0 C Optical 0 : 12. 2 scatternmetry z v) 12. 3 MOU P 12. 4 Adsorption U . . *. 100nm 2pm 1-100ppm All Y3 2Y 3P cm ... of edge profiles information None, the specimen is already thin capabilities Without standards +fl0 -20 % at.; with standards - 1 -2% at. -lo -21 g Thickness of specimen (I 20 00 ... of major, minor, and trace constituents of materials Instrument cost $300,000-$800,000 Size 3 mx 1.5 mx 2 m high 15 ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATION Cathodoluminescence...
  • 79
  • 327
  • 0
ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 4 pdf

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 4 pdf

... in some cases. Systematic errors often make the accu- 4.3 SEXAFS/NEXAFS 22 7 24 10 12 6 n A Vo x -8 34 - 12 -18 -24 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 k in Inverse ... versa. 22 8 ELECTRON/X-RAY DIFFRACTION Chapter 4 b b aP a b C d Figure2 Examples of overlayer structures with appropriate notation. (a) fcc (100) ~(2x2); (b) fcc (100) ~(2x2); ... in Figure 2c; the absence of a diffraction peak in the [ lTO] polar scan shown by the dashed line in Figure 2a helps to confirm this. 4.4 XPD and AED 24 5 0 .24 0. 0 .22 0. 0 .20 0. ‘p al...
  • 79
  • 231
  • 0
ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 5 pptx

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 5 pptx

... the XPS recorded Si 2p signal of Figure 4 has a width of about 1 eV, the individual 2~ 3,~ and 2p% components of the synchrotron recorded signal are only about 0 .25 eV wide. Whether this ... AM -24 1 (Np L X rays) are used in place of an X-ray tube in some applications. Analyzing Crystals Crystals commonly used in XRF are: LiF (20 0) and (22 0), which have 2Cspacings of ... 2Cspacings of 4. 028 and 2. 848 A, respectively; pyrolytic graphite (OO2), spacing 6.715 A; PET(OO2), spacing 8.7 42 A; TAP(OOl), spacing 25 .7 A; and synthetic multilayers ofW/Si, W/C, V/C,...
  • 79
  • 359
  • 0
ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 7 ppt

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 7 ppt

... consisting of 24 0 nm of Si on 170 nm of Si 02 on a Si sub-ate. The spectrum in (a) was acquired using a scattering angle of leOo while the spectrum in (b) used a detector angle of llOo. ... + 2. 196 ( 1.6454) El-'- 0.0 42 EL2 where El is expressed in MeV and the cross section in units of cm2/sr. Such an expression is of practical value for computer evaluation of measured ... resolution is on the order of 20 -30 nm, but can be as low as 2- 3 nm near the surface of a sample. Typical analysis depths are less than 20 00 nm, but the use of protons, rather than...
  • 79
  • 192
  • 0
ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 8 pdf

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 8 pdf

... 0.6 0 .27 Cr 26 19.5 Mn 0.6 0.73 Fe 9 8 .2 co 2 1.6 Ni 37 55 cu 0.07 0.19 Mo 25 11 .2 w 0.9 1.46 Table 1 Semiquantitative bulk analysis by SNMSd of the NIST SRM 24 02 Hasteloy ... of ICP-OES systems in use worldwide and the cost of a new ICP-OES is halfthat of an ICPMS.) 531 3 0 z 0 104 103 10’ IO’ 106 105 10‘ I03 IO‘ IO‘ 140 160 180 2co 22 0 24 0 ... time) of a silicon sample containing a boron ion implant. elements as a function of time, a profile of the in-depth distribution of the elements is obtained. The depth scale of the profile...
  • 79
  • 255
  • 0
ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 9 pdf

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 9 pdf

... 0.698 0 .20 2 20 .5 61.3 4.7 1.5 4.1 1.7 0.6 1.9 1.3 1.7 Al Fe Ni cu Sn Sb TI Pb 0.00056 0.00 025 0.0 72 0.0069 0.0019 0.0 021 0.044 0.066 33. 25 . 3.7 9.6 23 . 14. 5.4 ... ~0.00006 <0.0001 0.0 02 (c20.) (c200.) (40.) (<0 .2) 0.005 <0.00009 0.0 02 0.005 <0.0001 c0.00 02 (4 co.001 c0.0 02 <0.00001 0.001 <0.000 02 <o.ooo 1 ~0.00007 ... glow-discharge conditions of 3-mA discharge current and 1000-V discharge voltage except as noted. The standard pin dimensions were a diameter of 1.5 -2. 0 mm and a length of 18 -22 mm. Indium...
  • 79
  • 176
  • 0
ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 10 pdf

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 10 pdf

... 1000 2 750- w + 500- 25 0- 0- : z 0 n - i A CARBON AA 0 LITHIUM -=- _- ___ A A A '? + L-4- I 12. 6 12. 4 12. 2 12. 0 11.8 DISTANCE (mml 7 Lateral profiles of carbon ... limit of approximately 2 and a long wavelength limit of 720 PHYSICAL AND MAGNETIC PROPERTIES Chapter 12 12 PHYSICAL AND MAGNETIC PROPERTIES 12. 1 Surface Roughness 698 12. 2 Optical ... curvatures of 12 pm are often used, and smaller curvatures are available. For a 12- pm curvature stylus to have a lateral resolution of 1 pm, the amplitude of the structure cannot exceed 20 8,...
  • 71
  • 281
  • 0

Xem thêm

Từ khóa: streamline english departures students book phần 2 potxencyclopedia of medical anthropology volume 2hướng dẫn kích hoạt tính năng gia tốc 3d trên virtualbox phần 2 potrối loạn lipid máu và bệnh vữa xơ động mạch – phần 2 potxthanh niên với việc giữ gìn bản sắc văn hóa dân tộc phần 2 potđạo đức đề bài tiết kiệm và bảo vệ nguồn nước phần 2 potxđề tài lý luận về địa tô của cácmac và sự vận dụng vào chính sách đất đai ở việt nam hiện nay phần 2 potgiáo trình hình họa học phần 2 potðáp ứng miễn dịch qua trung gian tế bào – phần 2 potsound patterns of spoken english phần 2 docthứ bậc trong gia đình và tính cách của con phần 2 potxxem phim harry potter tap 7 phần 2 hdharry potter và chiếc cốc lửa phần 2harry potter và chiếc cốc lửa phần 2 vietsubharry potter và chiếc cốc lửa phần 2 htv3Báo cáo thực tập tại nhà thuốc tại Thành phố Hồ Chí Minh năm 2018Nghiên cứu sự biến đổi một số cytokin ở bệnh nhân xơ cứng bì hệ thốngchuyên đề điện xoay chiều theo dạngNghiên cứu tổ chức pha chế, đánh giá chất lượng thuốc tiêm truyền trong điều kiện dã ngoạiđề thi thử THPTQG 2019 toán THPT chuyên thái bình lần 2 có lời giảiGiáo án Sinh học 11 bài 13: Thực hành phát hiện diệp lục và carôtenôitGiáo án Sinh học 11 bài 13: Thực hành phát hiện diệp lục và carôtenôitGiáo án Sinh học 11 bài 13: Thực hành phát hiện diệp lục và carôtenôitPhát hiện xâm nhập dựa trên thuật toán k meansNghiên cứu về mô hình thống kê học sâu và ứng dụng trong nhận dạng chữ viết tay hạn chếNghiên cứu khả năng đo năng lượng điện bằng hệ thu thập dữ liệu 16 kênh DEWE 5000Sở hữu ruộng đất và kinh tế nông nghiệp châu ôn (lạng sơn) nửa đầu thế kỷ XIXTranh tụng tại phiên tòa hình sự sơ thẩm theo pháp luật tố tụng hình sự Việt Nam từ thực tiễn xét xử của các Tòa án quân sự Quân khu (Luận văn thạc sĩ)Giáo án Sinh học 11 bài 15: Tiêu hóa ở động vậtchuong 1 tong quan quan tri rui roGiáo án Sinh học 11 bài 14: Thực hành phát hiện hô hấp ở thực vậtGiáo án Sinh học 11 bài 14: Thực hành phát hiện hô hấp ở thực vậtHIỆU QUẢ CỦA MÔ HÌNH XỬ LÝ BÙN HOẠT TÍNH BẰNG KIỀMTÁI CHẾ NHỰA VÀ QUẢN LÝ CHẤT THẢI Ở HOA KỲQUẢN LÝ VÀ TÁI CHẾ NHỰA Ở HOA KỲ