0
  1. Trang chủ >
  2. Kỹ Thuật - Công Nghệ >
  3. Kĩ thuật Viễn thông >

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 5 pptx

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 5 pptx

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 5 pptx

... SPECTROSCOPIES Chapter 5 Bulk SiOp Thln Film Si02 on Si SiOp under Thln Film of Si 450 50 0 55 0 KE (eV) - Figure 5 Oxygen spectra from bulk SO2, a thin film of Si02 on Si, and ... Ritchie. J Polym. Sri. Polym. Chem. 13, 857 , 19 75. One of many papers from Clark's group of this era which deal with all aspects of XPS of polymers. 8 See the article on surface ... valence-band density of states, and thus the shape of the LW “peak” is derived from a self convolution of the valence- band density of states, and the width of the LW peak is twice the width of the valence...
  • 79
  • 359
  • 0
ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 1 pdf

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 1 pdf

... quantitative analysis of major, minor, and trace constituents of materials Instrument cost $300,000-$800,000 Size 3 mx 1 .5 mx 2 m high 15 ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATION ... Coupled Plasma-Optical Emission Spectroscopy, ICP-OES 633 53 2 55 9 58 6 57 1 624 NEUTRONANDNUCLEARTECHNIQUES 1'1.0 Introduction 6 45 1 1 .I Neutron Diffraction 648 11.2 Neutron Reflectivity ... analyzed, materials consisting of light elements are always probed more deeply than materials consisting of heavy ele- ments. 2 INTRODUCTION AND SUMMARIES Chapter 1 Compilation of Comparative...
  • 79
  • 327
  • 0
ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 2 pot

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 2 pot

... composite materials. Profilometry of softer materials, such as polymers, is also possible with SFM, and with STM if the sample is conducting. Low forces on the SFM tip allow imaging of materials ... profiles of all features with sides steeper than 55 " will be dominated by the profile of the tip. Because many kinds of features have steep sides, tip imaging is a common plague of SFM ... of Si,N* on an etch pit in (1 00) Si. The etch pit is bounded by (1 1 1) faces, which means that the resulting tip has an included angle of about 55 ". Therefore the edge profiles...
  • 79
  • 263
  • 0
ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 3 potx

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 3 potx

... distribution of generation of Cu KOr X rays for an incident beam energy of 20 keV, and the effect of absorption. tion volume of a beam incident perpendicularly on a flat specimen of copper, ... for the analysis of their distribution, with spatial resolution on the order of 1 pm and less. l1 3.3 CL 157 0 50 100 150 200 Energy Loss (eV) Figure2 Example of an energy-loss ... form of a cone as shown in Figure l), the electron diffraction pattern becomes an array of disks rather than an array of sharp spots as in TEM. The vari- ous manifestations of this type of...
  • 79
  • 223
  • 0
ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 4 pdf

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 4 pdf

... 0.2 75. z 0. 250 . 0.2 25. 0.200 ’ 0.1 15. t 3300 3400 350 0 3600 Photon energy lev) Figure 2 Surface EXAFS spectra above the Pd b-edge for a 1 .5 monolayer evaporated film of Pd ... A) is related to their energy E(given in eV) by 4 .5 LEED 255 physical placement of an aperture or an array of cylinders in front of the electron- analyzing optics. Or, if an electron ... Measure- ment of the intensiey and the shape of the profile gives a quantitative analysis of phase boundaries and the influence of finite sizes on the tran~ition.~ Dynamics of phase transitions,...
  • 79
  • 231
  • 0
ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 6 potx

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 6 potx

... VISIBLE/UV EMISSION, REFLECTION, Chapter 7 " 1 .50 1 .55 1.60 1. 65 1.70 1. 75 1.80 1. 85 1.90 Energy (4 Figure 3 Composite plot of 2 K excitonic spectra from 11 GaAs/AI,~,Gap.,As ... details of polarization in optics. 2 D. E. Aspnes. In: Handbook of Optical Constana of Solid. (E. Palik, ed.) Academic Press, Orlando, 19 85. Description of use of ellipsometry ... surface region of thickness t4). One of the films tl or t3 may consist of microscopic (less than 100 nm size) mixtures of two materials, such as SiO, and Si3N4. The volume ratios of these...
  • 79
  • 197
  • 0
ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 7 ppt

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 7 ppt

... foil will completely stop He ions of energy 5 2.3 MeV, while transmitting recoiling ‘H ions with an energy loss of 250 keV. An energy spread of I 50 keV in the transmitted ions ... consisting of 240 nm of Si on 170 nm of Si02 on a Si sub-ate. The spectrum in (a) was acquired using a scattering angle of leOo while the spectrum in (b) used a detector angle of llOo. ... wide range of analytical applications. Some typical examples include the quantitation of hydrogen in glassy carbon films, the study of the dynamics of polymeric molecule^,^ studies of interface...
  • 79
  • 192
  • 0
ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 8 pdf

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 8 pdf

... time) of a silicon sample containing a boron ion implant. elements as a function of time, a profile of the in-depth distribution of the elements is obtained. The depth scale of the profile ... 0.02 0.0 35 V 0.6 0.27 Cr 26 19 .5 Mn 0.6 0.73 Fe 9 8.2 co 2 1.6 Ni 37 55 cu 0.07 0.19 Mo 25 11.2 w 0.9 1.46 Table 1 Semiquantitative bulk analysis by SNMSd of the NIST ... deal of flexibility and control in the types and conditions of the energetic beam of particles chosen to stimulate desorp- tion. For elemental analysis of inorganic materials, typically a 50 -pm...
  • 79
  • 255
  • 0
ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 9 pdf

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 9 pdf

... Sb TI Pb 0.00 056 0.000 25 0.072 0.0069 0.0019 0.0021 0.044 0.066 33. 25. 3.7 9.6 23. 14. 5. 4 3.4 Table 2 Precision of trace elemental analysis of 3N5 199. 95% ) and 6N 199.9999%) ... co.001 ~0.000 05 <0.00002 <0.00 05 ~0.0003 (~0.9) (c20.) (4 (~0.04) 0. 05 0.002 0.0 05 0.03 ~0.0006 ~0.0008 (cO.9) c0.0 05 0.02 ~0.00 05 0.001 <0.0001 ~0.00 05 ~0.0003 ~0.0004 ... average of five measurements. The integration time per isotope per measurement was 50 0 ms (3N5 In) and 150 0 ms (6N In), respectively. Semiconductors The results of GDMS analysis of several...
  • 79
  • 176
  • 0
ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 10 pdf

ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 10 pdf

... interfaces, can 6 95 Mechanical urofiler Depth resolution 0 .5 nm Minimum step 2 .5- 5 nm Maximum step - 150 pm Lateral resolution Maximum sample size Instrument cost $30,000-$70,000 0.1- 25 pm, depending ... grating equation. The intensity of the light in the different orders is a very sensitive function of the shape of the lines of the pattern. If the shape of the lines of the pattern is influenced ... 1000 2 750 - w + 50 0- 250 - 0- : z 0 n - i A CARBON AA 0 LITHIUM -=- _- ___ A A A '? + L-4- I 12.6 12.4 12.2 12.0 11.8 DISTANCE (mml 7 Lateral profiles of carbon...
  • 71
  • 281
  • 0

Xem thêm

Từ khóa: 5 3 2 properties of in place materials and components 52encyclopedia of medical anthropologythe gale encyclopedia of sciencethe gale encyclopedia of genetic disorders iithe gale encyclopedia of genetic disordersgale encyclopedia of neurological disorderschemical analysis of materialsmicrosoft encyclopedia of securitygiới thiệu sử nước việt phần 5upon interchangeability of materials ordinarilyviệt nam sử lược phần 5thăng long hà nội trong ca dao ngạn ngữ phần 5kiểm tra sql server bằng windows powershell phần 5bài tập và bài giải kế toán tài chính phần 5sửa đổi lối làm việc phần 5Báo cáo quy trình mua hàng CT CP Công Nghệ NPVMột số giải pháp nâng cao chất lượng streaming thích ứng video trên nền giao thức HTTPBiện pháp quản lý hoạt động dạy hát xoan trong trường trung học cơ sở huyện lâm thao, phú thọGiáo án Sinh học 11 bài 13: Thực hành phát hiện diệp lục và carôtenôitGiáo án Sinh học 11 bài 13: Thực hành phát hiện diệp lục và carôtenôitĐỒ ÁN NGHIÊN CỨU CÔNG NGHỆ KẾT NỐI VÔ TUYẾN CỰ LY XA, CÔNG SUẤT THẤP LPWANQuản lý hoạt động học tập của học sinh theo hướng phát triển kỹ năng học tập hợp tác tại các trường phổ thông dân tộc bán trú huyện ba chẽ, tỉnh quảng ninhPhối hợp giữa phòng văn hóa và thông tin với phòng giáo dục và đào tạo trong việc tuyên truyền, giáo dục, vận động xây dựng nông thôn mới huyện thanh thủy, tỉnh phú thọTrả hồ sơ điều tra bổ sung đối với các tội xâm phạm sở hữu có tính chất chiếm đoạt theo pháp luật Tố tụng hình sự Việt Nam từ thực tiễn thành phố Hồ Chí Minh (Luận văn thạc sĩ)Nghiên cứu, xây dựng phần mềm smartscan và ứng dụng trong bảo vệ mạng máy tính chuyên dùngĐịnh tội danh từ thực tiễn huyện Cần Giuộc, tỉnh Long An (Luận văn thạc sĩ)Sở hữu ruộng đất và kinh tế nông nghiệp châu ôn (lạng sơn) nửa đầu thế kỷ XIXTranh tụng tại phiên tòa hình sự sơ thẩm theo pháp luật tố tụng hình sự Việt Nam từ thực tiễn xét xử của các Tòa án quân sự Quân khu (Luận văn thạc sĩ)Giáo án Sinh học 11 bài 14: Thực hành phát hiện hô hấp ở thực vậtGiáo án Sinh học 11 bài 14: Thực hành phát hiện hô hấp ở thực vậtGiáo án Sinh học 11 bài 14: Thực hành phát hiện hô hấp ở thực vậtTrách nhiệm của người sử dụng lao động đối với lao động nữ theo pháp luật lao động Việt Nam từ thực tiễn các khu công nghiệp tại thành phố Hồ Chí Minh (Luận văn thạc sĩ)Đổi mới quản lý tài chính trong hoạt động khoa học xã hội trường hợp viện hàn lâm khoa học xã hội việt namHIỆU QUẢ CỦA MÔ HÌNH XỬ LÝ BÙN HOẠT TÍNH BẰNG KIỀMTÁI CHẾ NHỰA VÀ QUẢN LÝ CHẤT THẢI Ở HOA KỲ